FLORENT Olivier

Forschungsleitung (Direction de recherche) : Alain GREINER

Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant

Verteidigung einer Doktorarbeit : 30.06.1998

Datum, an dem das LIP6 verlassen wurde : 01.07.1998

Alle Verantwortlicher Kommunikation These

1998
- O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, these, verteidigung einer doktorarbeit 30.06.1998, forschungsleitung (direction de recherche) Greiner, Alain (1998)
1997
- O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)