Supervision : Alain GREINER

Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant

1997-1998 Publications

• 1998
  • O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, thesis, defence 06/30/1998, supervision Greiner, Alain (1998)
• 1997
  • O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)