Supervision : Meryem MARZOUKI

Co-supervision : BRZOBOHATY J.

Recherche de compromis coût/qualité dans un processus de synthèse en vue de la testabilité

1998-2001 Publications

• 2001
  • P. Bukovjan, L. Ducerf‑Bourbon, M. Marzouki : “Cost/Quality Trade-Off in Synthesis for BIST”, Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, vol. 17 (2), pp. 109-119, (Springer Verlag) (2001)
• 2000
  • P. Bukovjan : “Recherche de compromis coût/qualité dans un processus de synthèse en vue de la testabilité”, thesis, defence 09/28/2000, supervision Marzouki, Meryem, co-supervision : Brzobohaty, J. (2000)
  • L. Ducerf‑Bourbon, P. Bukovjan, M. Marzouki : “TACOS: A Testability Allocation and Control System”, IEEE European Test Workshop (ETW), Cascais, Portugal (2000)
  • P. Bukovjan, L. Ducerf‑Bourbon, M. Marzouki : “Cost/Quality Trade-off in Synthesis for Scan”, 3^rd International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Slomenice, Slovakia (2000)
  • P. Bukovjan, L. Ducerf‑Bourbon, M. Marzouki : “Cost/Quality Trade-off in Synthesis for BIST”, 1^st IEEE Latin America Test Workshop (LATW), Rio de Janeiro, Brazil, pp. 110-115 (2000)
• 1999
  • P. Bukovjan, M. Marzouki, W. Maroufi : “Design for Testability Reuse in Synthesis for Testability”, XII Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI'99), Natal, RN, Brazil, pp. 206-209, (IEEE) (1999)
  • P. Bukovjan, M. Marzouki, W. Maroufi : “Testability Analysis and Cost/Quality Trade-off in Synthesis for Testability”, 4^th IEEE European Test Workshop (ETW'99), Constance, Germany (1999)
  • P. Bukovjan, M. Marzouki, W. Maroufi : “Testability Analysis in High-Level Synthesis”, 10^th European Workshop on Dependable Computing (EWDC), Vienna, Austria (1999)
• 1998
  • P. Bukovjan, M. Marzouki, W. Maroufi : “Cost/Quality Trade-off in High-Level Synthesis for Testability”, 2^nd International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland (1998)
  • P. Bukovjan, M. Marzouki, W. Maroufi : “Allocation for Testability in High-Level Synthesis Process”, 5^th Electronic Devices and Systems Conference, Brno, Czechia (1998)