FLORENT Olivier

Direction de recherche : Alain GREINER

Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant

Soutenance : 30/06/1998

Date de départ : 01/07/1998

Toutes Communications Soutenance de thèse

1998
- O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, soutenance de thèse, soutenance 30/06/1998, direction de recherche Greiner, Alain (1998)
1997
- O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)