IMSTWRSS

20th International Mixed-Signals Testing Workshop


http://tima.imag.fr/conferences/imstw/
24/06/2015 au 26/06/2015
Le rôle des systèmes nanoélectroniques s'étend rapidement à tous les aspects de notre vie moderne. L'une des principales limitations de ces systèmes est le test post-fabrication de leurs fonctions analogiques, mixtes analogiques-numériques, radiofréquence ou MEMS qui doit garantir la qualité sans pour autant sacrifier le rendement. Tester ces fonctions représente une large part du coût total de fabrication. Les causes en sont diverses: la demande d'un niveau de défauts de zéro parts-par-million, les fréquences de fonctionnement croissantes, la densité d'intégration, la difficulté d'observer et de contrôler les circuits embarqués, l'intégration de dispositifs hétérogènes sur un substrat commun, le recours à des équipements spécialisés extrêmement coûteux, les nouveaux mécanismes de dégradation et la variabilité croissante des processus de fabrication pour les noeuds technologiques les plus récents, la durée excessive des tests, etc.
De surcroît, les systèmes modernes dont la fonction est critique pour la sécurité ou pour la mission ainsi que les systèmes contrôlés à distance doivent être équipés de capacités d'autotest, de détection simultanée et de tolérance aux erreurs de manière à appréhender le plus tôt possible les risques de fiabilité pour garantir un fonctionnement correct même dans des environnements hostiles. Pour ces systèmes, le diagnostic des erreurs qui se produisent sur le terrain est d'une importance vitale pour pouvoir appliquer les corrections adéquates et prévenir leur répétition. Le diagnostic sur les premiers prototypes est également fondamental pour réduire le nombre d'itérations de processus de conception, dentifier les principales causes d'erreurs au niveau du processus de fabrication et pouvoir ainsi améliorer le rendement des futures générations de produits. International Mixed-Signals Testing Workshop est l'un des principaux forums qui rassemblent la communauté du test pour discuter des idées et des points de vue sur les différents défis cités ci-dessus.

Le cadre du workshop s'étend, entre autres, aux thématiques suivantes:

  • Génération automatique du test
  • Modélisation et simulation d'erreurs
  • Estimation des métriques de test
  • Auto-réparation et auto-adaptation
  • Built-in self-test
  • Design-for-test
  • Diagnostic d'erreurs
  • Analyse des défaillances
  • Caractérisation de défauts
  • Technologie des ATE
  • Economie du test et optimisation du rendement
  • Test en ligne
  • Tolérance aux erreurs
  • Fiabilité

IMSTW'15 aura lieu à Paris, Université Pierre et Marie Curie, campus Jussieu

Plus d'informations ici
Marie-Minerve.Louerat (at) nulllip6.fr
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