Direção de pesquisa : Anne Derieux

Simulation de Fautes et Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des Tolérances

Publicações 1997-2001

• 2001
  • A. Khouas, A. Derieux : “FDP : Fault Detection Probability Function for Analog Circuits”, IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS'2001), vol. 4, Sydney, Australia, pp. 17-20, (IEEE) (2001)
• 2000
  • A. Khouas : “Simulation de Fautes et Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des Tolérances”, tese, defesas 14/09/2000, direção de pesquisa Derieux, Anne (2000)
  • A. Khouas, A. Derieux : “Analog Fault Detection based on Statistical Analysis”, 6^th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop (IMSTW), Montpellier, France, pp. 27-31 (2000)
  • A. Khouas, A. Derieux : “Fault Simulation for Analog Circuits Under Parameter Variations”, Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, vol. 16 (3), pp. 269-278, (Springer Verlag) (2000)
• 1999
  • A. Khouas, M. Dessouky, A. Derieux : “Optimized Statistical Analog Fault Simulation”, IEEE Asian Test Symposium (ATS'99), Shanghai, China, pp. 227-232, (IEEE) (1999)
  • A. Khouas, A. Derieux : “Speed-up of High Accurate Analog Test Stimulus Optimization”, International Test Conference (ITC), Atlantic City, NJ, United States, pp. 230-236, (IEEE) (1999)
  • A. Khouas, A. Derieux : “Methodology for Fast and Accurate Analog Production Test Optimization”, 5^th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop (IMSTW), Whistler, British Columbia, Canada, pp. 215-219 (1999)
  • A. Khouas, A. Derieux : “Optimization of Production Tests for Analog Circuits under Parameter Variations”, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES'99), Krakow, Poland (1999)
  • A. Khouas, A. Derieux : “Optimisation des Tests de Production pour les Circuits Analogiques avec prise en compte des tolérances”, Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes GDR 732, Aix-en-Provence, France (1999)
• 1997
  • F. Mohamed, A. Khouas, A. Derieux : “L’optimisation des vecteurs de test analogique à base d’une approche floue”, Rencontre Francophone sur la Logique Floue et ses Applications (LFA'97), Lyon, France, pp. 107-112 (1997)