责任导师 : Alain GREINER

Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant

1997-1998 刊物

• 1998
  • O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, 博士论文, 答辩 1998-6-30, 责任导师 Greiner, Alain (1998)
• 1997
  • O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)