Научны(е)й руководител(и)ь : Alain GREINER

Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant

Публикации 1997-1998

• 1998
  • O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, диссертация, Защита диссертаций 30.06.1998, Научны(е)й руководител(и)ь Greiner, Alain (1998)
• 1997
  • O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)