FLORENT Olivier
Direção de pesquisa : Alain GREINER
Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant
Defesas : 30/06/1998
Data de partida : 01/07/1998Publicações 1997-1998
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1998
- O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, tese, defesas 30/06/1998, direção de pesquisa Greiner, Alain (1998)
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1997
- O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)