FLORENT Olivier
Relatore : Alain GREINER
Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant
Difesa : 06/30/1998
Data di partenza : 07/01/1998Relatore : Alain GREINER
Difesa : 06/30/1998
Data di partenza : 07/01/1998