FLORENT Olivier
Dirección de investigación : Alain GREINER
Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant
Defensa : 30/06/1998
Fecha de salida : 01/07/1998Dirección de investigación : Alain GREINER
Defensa : 30/06/1998
Fecha de salida : 01/07/1998