FLORENT Olivier
Forschungsleitung (Direction de recherche) : Alain GREINER
Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant
Verteidigung einer Doktorarbeit : 30.06.1998
Datum, an dem das LIP6 verlassen wurde : 01.07.1998Publikationen 1997-1998
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1998
- O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, these, verteidigung einer doktorarbeit 30.06.1998, forschungsleitung (direction de recherche) Greiner, Alain (1998)
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1997
- O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)