رئاسـة البـحث : Alain GREINER

Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant

إصدارات 1997-1998

• 1998
  • O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, أطروحة, مناقـشـة مـذكـرة 30/06/1998, رئاسـة البـحث Greiner, Alain (1998)
• 1997
  • O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)