Forschungsleitung (Direction de recherche) : Alain GREINER

Analyse temporelle hiérarchique des circuits VLSI à très haute densité d'intégration

Publikationen 1997-2002

• 2002
  • G. Avot, A. Greiner, M.‑M. Louërat, K. Dioury, A. Lester, A. Debreil : “Use of MutiPhase Stability Intervals to handle Crosstalk with the Timing Analyzer hiTas”, Design Automation and Test in Europe Conference (DATE'2002), Paris, France, pp. 112-116 (2002)
• 2000
  • K. Dioury, A. Lester, A. Debreil, G. Avot, A. Greiner, M.‑M. Rosset‑Louërat : “Hierarchical Static Timing Analysis at Bull with HiTas”, Design Automation and Test in Europe Conference User Forum (DATE'2000), Paris, France, pp. 55-60 (2000)
• 1999
  • K. Dioury, A. Greiner, M.‑M. Rosset‑Louërat : “Hierarchical Static Timing Analysis for CMOS ULSI Circuits”, International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU'99), Monterey, CA, United States, pp. 65-70 (1999)
• 1998
  • K. Dioury : “Analyse temporelle hiérarchique des circuits VLSI à très haute densité d’intégration”, these, verteidigung einer doktorarbeit 18.09.1998, forschungsleitung (direction de recherche) Greiner, Alain (1998)
  • F. Wajsbürt, F. Pétrot, K. Dioury : “Transistor Controlled Slew Rate Process Independent PCI Compliant I/O Buffer with Possible Power/Delay Trade-off”, Microelectronics Journal, vol. 29 (10), pp. 733-740, (Elsevier) (1998)
• 1997
  • F. Wajsbürt, K. Dioury, F. Pétrot : “Low Power, Process Independent, Full Transistor Controlled Slew Rate, PCI Compliant I/O pads”, 21^st International Conference on Microelectronics, Nis, Serbia, pp. 811-814, (IEEE) (1997)
  • K. Dioury, A. Greiner, M.‑M. Rosset‑Louërat : “Accurate static timing analysis for deep submicronic CMOS circuits”, International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI'97), IFIP - The International Federation for Information Processing, Gramado, Brazil, pp. 439-450, (Springer) (1997)
  • K. Dioury, A. Greiner, M.‑M. Rosset‑Louërat : “Analyse Temporelle des Circuits VLSI à Haute Densité d’Intégration Utilisant des Technologies Submicroniques”, 1^er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 184-187 (1997)