Direction de recherche : Habib MEHREZ

Co-encadrement : LOUËRAT Marie-Minerve

Système de calibration des défauts d'appariement d'un convertisseur analogique-numérique à entrelacement temporel opérant en ligne

Dans ce travail, nous présentons un ADC à entrelacement temporel et la calibration des quatre types de défaut d’appariement (offset, gain, décalage temporel et bande passante). Ces défauts et la technique de calibration sont analysés de manière analytique. La calibration fonctionne en ligne en utilisant une nouvelle technique de multiplexage. Le système de calibration est de type mixte analogique-numérique où la détection d'erreur est effectuée en numérique par trois détecteurs: l'un pour la disparité d’offset, l'un pour l'amplitude et l'autre pour la phase. Les corrections du décalage temporel et de bande passante sont effectuées respectivement grâce à une ligne à retard commandée numérique et une résistance ajustable. Ces techniques analogiques sont réalisées en technologie CMOS 40 nm de STMicroelectronics. Une séquence de calibration particulière est utilisée pour distinguer les différentes erreurs et permettre leur détection et ensuite leur correction. L’efficacité du système de calibration est illustrée par les simulations systèmes. Une architecture d’un TIADC, 4 voies, 12 bit 800 MS/s est présentée avec ses performances.

Publications 2010-2016